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电子半导体图像法污染度分析系统 颗粒计数
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产品参考价:¥999999举报
产品型号: PLD-MPCS2.0
厂商性质: 1
地: 西安市
更新时间: 2020-06-17 15:25:39
浏览次数: 262
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(网上配资 ,请说明是在 安防展览网杭州股票配资 上看到的信息,谢谢!)

详细介绍

电子半导体图像法污染度分析系统 颗粒计数-优势:

测试软件具有审计追踪、权限管控、电子记录、测试标准、计量验证、报告模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能;

全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数,或按用户设定范围计数,自动显示分析结果,并按照相关标准确定产品等级;

将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物;

软件控制分析过程,手动对焦,手动光强(颗粒清洁度测试必须人为干预进行),自动扫描,自动摄入,自动分析;

专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描;全自动膜片扫描系统,无缝拼接,数字化显微镜分析系统;

R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统;

颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析;

引入3D遥感三维调控技术,快速定位,快速聚焦,体验极速无卡顿测试。

显示器及打印机输出分析结果;

直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点;

避免激光法的产品缺陷,扩展检测范围;

现实NAS、ISO等国际标准方法的认可;

提供行业独有的“OIL17服务星”签约式服务;

电子半导体图像法污染度分析系统 颗粒计数-应用:

航空航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、半导体、工程机械、液压系统等领域

各类固体粉末、各类液体中的固体颗粒(非连续相测试)

执行标准:

0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率

可根据客户要求,植入相应“图像法颗粒度”测试和评判标准。

技术参数:

产品型号:PLD-MPCS2.0

订制要求:各类液体检测要求;

测试范围:  1μm-500μm

放大倍数:40X~l000X倍

zui大分辨:0.1μm

显微镜误差:0.02(不包含样品制备因素造成的误差)

重复性误差:< 5%(不包含样品制备因素造成的误差)

数字摄像头(CCD):500万~1800万像素

分析项目:粒度分布、长径比分布、圆形度分布等

自动分割速度:< 1秒

分割成功率:> 93%

软件运行环境:Windows 10

接口方式:RS232或USB方式

精 确 度:<±3% 典型值;

重合精度:10000粒/mL(5%重合误差);

  率:>95%

售后服务:普洛帝中国服务中心/普研检测。

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